YLJS-7062異頻全自動抗干擾介質損耗測試儀
標簽: 介質損耗測試儀
▍ 簡要(yao)說(shuo)明 ↴
YLJS-7062異頻全自動抗干擾介質損耗測試儀是陜西意(yi)聯電(dian)(dian)氣結合國(guo)家(jia)相關規程及用戶需求,為發(fa)(fa)電(dian)(dian)廠、變(bian)電(dian)(dian)站(zhan)等現場或實驗室測試(shi)各種高壓電(dian)(dian)力設備(bei)的介質損(sun)耗正切(qie)值及電(dian)(dian)容量(liang)而專門研發(fa)(fa)設計的一款高精(jing)度測試(shi)儀器。
▍ 產品特點 ↴
→ 超大液晶中(zhong)文顯(xian)示:配(pei)備了大屏幕中(zhong)文菜(cai)單(dan)(dan)界面(mian),屏顯(xian)分為(wei)左(zuo)右兩部分,左(zuo)邊為(wei)功能菜(cai)單(dan)(dan)區(qu),右邊為(wei)相(xiang)關狀(zhuang)態信息提示,操作提示清楚,操作人(ren)員(yuan)無需專業培訓。一(yi)次操作,微機自動完(wan)成全過(guo)程的測量(liang),簡單(dan)(dan)方便。
→ 多種測試模(mo)式:能夠(gou)分別使(shi)用內(nei)高壓(ya)(ya)、外高壓(ya)(ya)、內(nei)標(biao)準(zhun)、外標(biao)準(zhun)、正接法(fa)、反接法(fa)、自激(ji)法(fa)等(deng)多種方式測試;在外標(biao)準(zhun)外高壓(ya)(ya)情況下可以做高電壓(ya)(ya)(大于10kV)介質(zhi)損耗試驗。
→ CVT測(ce)試一(yi)步到(dao)位(wei):可(ke)以測(ce)試全密封(feng)的(de)CVT(電容式電壓(ya)互(hu)感器)C1、C2的(de)介損和電容量,實現了C1、C2的(de)同時(shi)測(ce)試,還可(ke)以測(ce)試CVT變比(bi)和電壓(ya)角差。
→ 不拆高(gao)壓(ya)引線(xian)(xian)測量CVT:可(ke)在不拆除CVT高(gao)壓(ya)引線(xian)(xian)的情況(kuang)下正確測量CVT的介質損耗值(zhi)(zhi)和電容值(zhi)(zhi)。
→ CVT反接屏蔽法(fa)測(ce)量(liang)C0:可采用反接屏蔽法(fa)測(ce)量(liang)CVT上(shang)端C0的介質損(sun)耗值(zhi)和電容值(zhi)。
→ 高速采(cai)樣(yang)信(xin)號:內(nei)部的逆變(bian)器和采(cai)樣(yang)電(dian)路全部由數字(zi)化控制,輸出(chu)電(dian)壓連續可調。
→ 多(duo)重(zhong)保(bao)護安全可(ke)(ke)靠:具(ju)備輸入電壓(ya)波動、輸出短路、過(guo)(guo)壓(ya)、過(guo)(guo)流(liu)、溫度等(deng)多(duo)重(zhong)保(bao)護措施,保(bao)證了儀器安全、可(ke)(ke)靠,還具(ju)備接地(di)檢測功能,確保(bao)不接地(di)設備不允許升壓(ya)。
→ 海(hai)量存(cun)儲(chu)(chu)數據:內部配(pei)備有日歷芯(xin)片和大(da)容量存(cun)儲(chu)(chu)器,能將檢(jian)測結果按時間順(shun)序保存(cun),隨時可以查看(kan)歷史記錄,并可以打印輸(shu)出;
→ 科學先進的數據管理:儀器數據可(ke)(ke)以通(tong)過U盤導出(chu),可(ke)(ke)在任意一臺PC機上通(tong)過我公司專用軟件,查看和(he)管理數據并(bing)可(ke)(ke)生成工作報告。
▍ 測試功能 ↴
正接法 |
有 |
反接法 |
有 |
CVT自激法(fa) |
有(you) |
同時測量C1和(he)C2 |
有(you) |
CVT變比測試 |
有 |
外高壓(ya)測試(shi) |
有 |
外標準測試 |
有 |
▍ 技術參數 ↴
使用條件 |
-15℃~40℃ |
RH<80% |
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抗(kang)干擾原理 |
變頻法(fa) |
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電源 |
AC220V±10% |
允(yun)許發電機 |
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高壓(ya)輸(shu)出 |
0.5KV~10KV |
每隔0.1kV |
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精度 |
2% |
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zui大電流 |
200mA |
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容量(liang) |
1500VA |
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自(zi)激電源 |
AC0V~50V/15A |
45HZ/55HZ;55HZ/65HZ |
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分辨率 |
tgδ:0.001% |
Cx:0.01pF |
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精度 |
△tgδ:±(讀數*1.0%+0.040%) |
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△Cx:±(讀數(shu)*1.0%+1.00PF) |
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測(ce)量范(fan)圍 |
tgδ |
無限制 |
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Cx |
15pF<Cx<300nF |
10kV |
Cx<60nF |
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5kV |
Cx<150nF |
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1kV |
Cx<300nF |
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CVT測試 |
Cx<300nF |
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CVT變比范圍(wei) |
10~10000 |
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CVT變比精度 |
0.1% |
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CVT變比(bi)分辨率(lv) |
0.01 |
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外型尺寸(cun) |
430mm×330mm×330mm |
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存儲器大(da)小(xiao) |
200組支持U盤數(shu)據存儲 |
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重量 |
28kg |
▍ 工作原理 ↴
介質損耗測試儀原理:在(zai)交流(liu)電(dian)(dian)(dian)壓(ya)(ya)作用(yong)下(xia),電(dian)(dian)(dian)介(jie)(jie)質要(yao)消耗部分(fen)電(dian)(dian)(dian)能(neng),這(zhe)部分(fen)電(dian)(dian)(dian)能(neng)將轉變為(wei)熱能(neng)產生損(sun)(sun)耗。這(zhe)種能(neng)量(liang)(liang)損(sun)(sun)耗叫做電(dian)(dian)(dian)介(jie)(jie)質的損(sun)(sun)耗。當電(dian)(dian)(dian)介(jie)(jie)質上施加交流(liu)電(dian)(dian)(dian)壓(ya)(ya)時,電(dian)(dian)(dian)介(jie)(jie)質中的電(dian)(dian)(dian)壓(ya)(ya)和(he)(he)(he)電(dian)(dian)(dian)流(liu)間(jian)成(cheng)(cheng)在(zai)相角(jiao)(jiao)差ψ,ψ的余(yu)角(jiao)(jiao)δ稱(cheng)為(wei)介(jie)(jie)質損(sun)(sun)耗角(jiao)(jiao),δ的正切(qie)tgδ稱(cheng)為(wei)介(jie)(jie)質損(sun)(sun)耗角(jiao)(jiao)正切(qie)。tgδ值(zhi)(zhi)是用(yong)來(lai)衡(heng)量(liang)(liang)電(dian)(dian)(dian)介(jie)(jie)質損(sun)(sun)耗的參數(shu)。儀器(qi)(qi)(qi)測量(liang)(liang)線路(lu)(lu)(lu)(lu)包括一標(biao)準回路(lu)(lu)(lu)(lu)(Cn)和(he)(he)(he)一被試(shi)(shi)回路(lu)(lu)(lu)(lu)(Cx),如圖2—1所示。標(biao)準回路(lu)(lu)(lu)(lu)由(you)內(nei)置高(gao)穩定度(du)標(biao)準電(dian)(dian)(dian)容(rong)器(qi)(qi)(qi)與(yu)測量(liang)(liang)線路(lu)(lu)(lu)(lu)組成(cheng)(cheng),被試(shi)(shi)回路(lu)(lu)(lu)(lu)由(you)被試(shi)(shi)品(pin)和(he)(he)(he)測量(liang)(liang)線路(lu)(lu)(lu)(lu)組成(cheng)(cheng)。測量(liang)(liang)線路(lu)(lu)(lu)(lu)由(you)取樣電(dian)(dian)(dian)阻與(yu)前置放大器(qi)(qi)(qi)和(he)(he)(he)A/D轉換器(qi)(qi)(qi)組成(cheng)(cheng)。通過測量(liang)(liang)電(dian)(dian)(dian)路(lu)(lu)(lu)(lu)分(fen)別測得標(biao)準回路(lu)(lu)(lu)(lu)電(dian)(dian)(dian)流(liu)與(yu)被試(shi)(shi)回路(lu)(lu)(lu)(lu)電(dian)(dian)(dian)流(liu)幅值(zhi)(zhi)及其相位差,再由(you)數(shu)字信號處(chu)理器(qi)(qi)(qi)運用(yong)數(shu)字化實時采集方法,通過矢量(liang)(liang)運算(suan)得出試(shi)(shi)品(pin)的電(dian)(dian)(dian)容(rong)值(zhi)(zhi)和(he)(he)(he)介(jie)(jie)質損(sun)(sun)耗正切(qie)值(zhi)(zhi)。儀器(qi)(qi)(qi)內(nei)部已經采用(yong)了抗干(gan)(gan)擾(rao)措施,保證在(zai)外電(dian)(dian)(dian)場干(gan)(gan)擾(rao)下(xia)準確(que)測量(liang)(liang)。
▍ 使用注(zhu)意事項 ↴
1. 異頻全(quan)自動介質損耗測試儀只(zhi)能(neng)在停(ting)電設(she)備(bei)上使用(yong),其它設(she)備(bei)可不斷電;
2. 儀器自帶有(you)升壓裝置,應(ying)注(zhu)意高壓引線的絕緣及人員安全;
3. 儀(yi)器應(ying)可靠接(jie)地;
4. 使(shi)用全自動抗干(gan)擾介質損耗測試儀檢測設備前,應先對設備進行絕(jue)緣檢測;
5. 確(que)定設備(bei)的(de)耐壓(ya)(ya)等級,正確(que)選擇儀器升(sheng)壓(ya)(ya)檔位,以防(fang)擊穿(chuan)設備(bei),損壞儀器;
6. 介質(zhi)損耗測(ce)試儀(yi)所配專用(yong)高壓電纜出廠時已(yi)檢測(ce)合格,但測(ce)量時仍需遠(yuan)離人體;
7. 輸入(ru)電(dian)壓為AC220V±10%,超出(chu)范圍(wei)都有(you)可(ke)能影響測試精度;zui大(da)輸入(ru)電(dian)壓為AC264V,超過此值會造成(cheng)長久性損壞,對此廠家(jia)不予保修;
8. 打印機(ji)有可能在搬運過程(cheng)中因卷紙(zhi)松動而出(chu)(chu)現打印卡紙(zhi),此(ci)時只需將卷紙(zhi)取出(chu)(chu),繞緊后重新裝入(ru);
9. 儀器應注意防潮,防劇烈震動;
10. 發電(dian)(dian)機(ji)供(gong)電(dian)(dian)時應(ying)將輸出(chu)零線(xian)接地,否則會(hui)提示接地有誤。
▍ 產(chan)品實(shi)拍 ↴
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